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膜厚仪产品特点

日期:2020-06-06 06:21
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摘要:
 膜厚仪产品特点 

      膜厚仪 ,又叫膜厚计、膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光 X 射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。 
   
膜厚测试仪产品特点: 
   
  能够量测无铅焊锡 
   
  配备了薄膜 FP 法,可以同时量测 Sn-Ag , Sn-Bi , Sn-Cu 等,无铅焊锡的镀层后与成份 
   
  搭载中心搜索软件 
   
  通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的量测中心位置。 
   
  拥有防冲功能 
   
  搭载激光对焦系统 
   
  搭载测试报告自动生成软件 
   
  拥有自动量测软件以及中心搜索软件 
   
  搭载了薄膜 FP 法软件 
   
   X 射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为 0.000001m(1 μ m) 左右 ,X 射线比其短为 0.000000000001m 至 0.00000001m(0.01-100?) 左右。 



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