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膜厚仪的电涡流测量原理

日期:2020-07-04 07:32
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摘要:
 
  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头使用高频材质做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材质。与磁感应原理比较,主要区别是测头区别,信号的频率区别,信号的大小、标度关系区别。与磁感应测厚仪一样,涡流膜厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。
      使用电涡流原理的膜厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材质有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是使用磁性原理测量较为合适

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